市计测院的创新作品“突破卡脖子检测技术，助力晶圆盒国产化”在刚刚落下帷幕的首届上海市检验检测行业创新大赛决赛中荣获三等奖。

本次大赛以 “向新而行，创质未来”为主题，由上海市市场监督管理局主办，中国科学院院士董绍明等多位行业顶尖专家担任评委。大赛自启动以来，受到业内广泛关注，共有168家单位积极参与，报送创新作品216项，内容覆盖集成电路、生物医药、人工智能三大先导产业，以及电子信息、汽车、高端装备等重点产业。经过初赛、复赛的专家评审、现场展演和评委票选等环节后，市计测院报送的作品进入决赛的激烈角逐，最终获得三等奖。该创新作品工作内容围绕晶圆盒关键杂质检测方法展开研究，成功开发2项关键检测技术，突破晶圆盒检测技术难题，为晶圆盒生产工艺优化提供可行方案，有效节约研发和时间成本，填补国内相关领域技术空白，助力国产芯片技术自主可控。

市计测院今后将继续聚焦集成电路等重点产业需求，发挥自身技术优势，推动检验检测事业不断迈上新台阶，以计量科技创新筑基新质生产力，促进经济社会全面进步和长期可持续发展。

（本文来源于上海市计量测试技术研究院）